STED ，即受激发射损耗显微镜，是一种具有超高分辨率的先进显微镜技术。它通过特殊的激光技术，突破了传统光学显微镜的分辨率极限，能够实现更精细的结构成像。
其具有高对比度，可提供清晰图像，有利于对样品细节的观察与分析。并且，该显微镜可通过特异性标记，选择性地显示目标结构，适用范围广泛，包括生物学、医学、材料科学等多个领域。此外，它对各种类型的样品具有较好的兼容性。
STED 显微镜的工作原理是抑制非焦点区域的荧光发射，从而提高分辨率。在实际应用中，它为生命科学等相关领域的研究提供了重要的技术支持。
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超分辨STED显微镜系统
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激光光源
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488 nm(20 mW);561 nm(20 mW);647 nm(20 mW);
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模拟/TTL电平调制, 强度可调(0-100%)
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单模光纤, FC/APC 接头
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扫描模块
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双轴XY高速光学扫描振镜（检流计型）
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视场15mm X 15mm，扫描像素512 x 512 ~ 4096 x 4096
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单像素时间0.5毫秒
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扫描模式
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X-Y, X-Y-T, X-Y-Z, X-Y-Z-T
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针孔
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直径：10/20/50/100/200 μm （可选）
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探测器
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GaAsP PMT, QE>45%@500nm
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分辨率
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40nm
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XYZ平移台
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最小步长50 nm; 重复精确度+/-0.1μm
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最高速度 100 mm/s
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行程： X：110mm，Y：75mm，Z：9mm
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软件界面
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多色荧光共定位处理，Z-stack处理分析及大图拼接，滤波处理，参数管理等
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