一、原理
荧光寿命成像显微术 (FLIM) 是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。 除了具有特有的发射光谱外，每个荧光分子还有特有的寿命，它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。 除了标准的荧光强度测量外，寿命分析还可以提供其他信息。
二、 FLIM数据采集与分析
1. 重复测量从激光激发荧光团到荧光光子到达检测器每个像素之间的时间（参见图 1A）。
2. 计算激光脉冲后光子计数与到达时间的直方图。
3. 将指数衰减曲线 F(t) = A0 exp (-t/τ) 与每个直方图进行拟合。振幅 F(t) 反映了在特定时间检测到的光子总数，时间常数 τ 称为荧光寿命（参见图 1B）。
4. 每个寿命值使用任意颜色显示寿命图像（参见图 1C）
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荧光寿命显微镜系统
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激光光源
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375 nm ~ 785 nm可选，最多四个波长
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重复频率：20, 50, 80 MHz，CW
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脉冲宽度：40 ps ~ 100 ps
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扫描模块
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双轴XY高速光学扫描振镜（检流计型）
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视场15mm X 15mm，扫描像素512 x 512 ~ 4096 x 4096
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扫描模式
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X-Y, X-Y-T, X-Y-Z, X-Y-Z-T
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时间分辨率
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20 ps RMS / <40 ps FWHM
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探测器
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GaAsP PMT, QE>45%@500nm
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滤光单元
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DAPI(445nm/40);FITC(530nm/43);TRITC(605nm/60);CY5(695nm/40)
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XYZ平移台
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最小步长50 nm; 重复精确度+/-0.1μm
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最高速度 100 mm/s
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行程： X：110mm，Y：75mm，Z：9mm
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软件界面
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多色荧光共定位处理，荧光寿命图谱解析，滤波处理，参数管理等
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